納米粒度電位儀是一種用于化學領域的分析儀器，主要用于測量納米級和亞微米級固體顆粒、乳液的粒度分布以及Zeta電位。通過動態光散射（DLS）等技術，該儀器能夠準確、快速地分析樣品的粒徑大小和分布，同時測定顆粒表面的Zeta電位，從而了解顆粒的穩定性和表面電荷情況。納米粒度電位儀利用動態光散射原理，通過測量散射光的強度和波動來推算顆粒的粒徑大小和分布。當激光束照射到顆粒樣品上時，顆粒會散射光，散射光的強度與顆粒的大小和數量有關。通過分析散射光的波動情況，可以得到顆粒的粒徑分布信息...

x射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。其基本原理是利用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出次級X射線，即X射線熒光。當這些高能射線與樣品中的原子相互作用時，會將原子內層的電子擊出，導致外層電子躍遷到內層。當外層電子返回基態時，會釋放出特征X射線，這些特征X射線的能量或波長與元素的種類有關。通過檢測這些特征X射線，可以確定樣品中存在的元素種類及其含量。x射線熒光光譜儀的具體特性：1、非破壞性：在分析過程中不會對樣品造成破壞，這對于珍貴或不復制的樣品尤為重要。2...

激光噴霧粒度儀是一種高精度儀器，專門用于測量微米級顆粒的粒度分布。基于激光散射原理工作。當一束激光照射到噴霧中的顆粒時，顆粒會對激光產生散射。散射光的強度和角度與顆粒的大小、形狀、折射率等因素有關。通過測量不同角度上的散射光強度，可以得到顆粒的粒度分布信息。激光噴霧粒度儀通常由激光器、探測器、數據處理系統等部分組成。激光器發出激光，經過聚焦后照射到正在噴霧的顆粒上。產生的散射光被探測器接收，并轉換為電信號。數據處理系統則對電信號進行處理和分析，最終得出顆粒的粒度分布、平均粒徑...

本文摘要利用XRF方法分析Li-NCM正極材料，已被證實具有非常好的精度和準確度，可以高通量測試并獲得與ICP相媲美的高質量的分析結果。那么利用占地更小、更經濟、更易操作的能量色散型X射線熒光光譜儀是否可以呢？本文將介紹馬爾文帕納科高性能EDXRF--Epsilon4在同類型正極材料元素分析中的實驗結果。在上一篇題為“XRF分析鎳鈷錳正極材料及其前驅體的元素成分”的推文中，我們介紹了利用NCM標準物質校準套裝結合馬爾文帕納科高精度熔融設備和波長色散X射線熒光光譜儀Zetium...

本文摘要在腫瘤治療中展現強大治療潛力的ADC藥物，其大規模商業化很大程度上是基于偶聯技術的突破，更智能的連接子真正實現藥物的精準釋放，讓ADC藥物的療效和安全性得到了顯著的提升。為應對ADC藥物高研發成本，降低失敗風險，表征關鍵質量屬性（CQAs）是此類藥物研發生產的關鍵所在。本文介紹了馬爾文帕納科貫穿ADC藥物研發全過程的多種表征技術及其在評估結合活性、優化穩定性及控制顆粒形成等領域的相關應用。近年來，抗體偶聯藥物（Antibody-DrugConjugates,ADCs）...