前文我們對馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer的Zeta電位測試報告中的的參數逐一做了解釋，那么電位測試結果質量要如何判別呢？Zeta電位的數據質量主要取決于相位圖的質量，可以從相位圖，質量因子以及衰減器來做出判斷。01丨相位圖如下圖，測量產生的相位差隨時間的交變斜率，FFR快速電場轉換，相位隨電場轉換快且清晰；SFR慢速電場轉換，斜率大，縱坐標絕對值大，即表示相位圖質量較好。圖1：質量較好的相位圖而當測量產生的相位差隨時間的交變斜率不清晰，斜率低，縱坐標絕對值小時，...

激光粒度分布儀是一種集光、機、電、計算機為一體的高科技產品，工作原理基于光散射原理。當激光照射到顆粒上時，會產生衍射和散射現象。不同粒徑的顆粒會產生不同的散射光分布，通過檢測這些散射光的分布，可以反推出顆粒的粒徑分布。具體來說，激光粒度分布儀通過收集和分析散射光的信號，來確定顆粒的大小分布。通常由激光器、樣品池、光學系統、探測器和數據處理系統等部分組成。激光器發出的激光經過光學系統聚焦后，照射到樣品池中的顆粒上。顆粒散射的光被光學系統收集，并聚焦到探測器上。探測器將光信號轉換...

X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質的晶體結構、織構及應力，進行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是：當一束X射線照射到晶體物質上時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強度與晶體結構密切相關，不同的晶體物質具有自己獨t的衍射圖樣。通過分析這些衍射圖樣，可以獲得物質的晶體結構信息。X射線衍射儀其基本結構特...

納米顆粒跟蹤分析儀是一種先進的物理性能測試儀器，主要用于材料科學和生物學領域，能夠精準測量納米顆粒的濃度、粒徑分布以及動力學過程。其利用光散射和布朗運動的特性，通過激光光束穿過樣本室并沿光束散射光的路徑穿過懸浮液中的顆粒，實現顆粒的可視化。攝像頭捕捉布朗運動下移動顆粒的視頻文件，軟件單獨追蹤多個顆粒并利用愛因斯坦方程式計算顆粒的流體力學直徑。同時，該技術還可以提供顆粒的濃度信息和粒徑分布數據。納米顆粒跟蹤分析儀的應用范圍廣泛，以下是對其應用領域的具體介紹：1、生物醫學研究：在...

激光粒度分布儀是一種集光、機、電、計算機為一體的高科技產品，工作原理基于光散射原理。當激光照射到顆粒上時，會產生衍射和散射現象。不同粒徑的顆粒會產生不同的散射光分布，通過檢測這些散射光的分布，可以反推出顆粒的粒徑分布。具體來說，激光粒度分布儀通過收集和分析散射光的信號，來確定顆粒的大小分布。通常由激光器、樣品池、光學系統、探測器和數據處理系統等部分組成。激光器發出的激光經過光學系統聚焦后，照射到樣品池中的顆粒上。顆粒散射的光被光學系統收集，并聚焦到探測器上。探測器將光信號轉換...