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X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質的晶體結構、織構及應力,進行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是:當一束X射線照射到晶體物質上時,由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成,這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級,故由不同原子散射的X射線相互...
本文摘要國家發改委于2005年發布了《工業用精對苯二甲酸粒度分布的測定激光衍射法》的中華人民共和國石油化工行業標準SH/T1612.8-2005。本文報告了使用馬爾文帕納科MS3000激光粒度儀按照標準方法對PTA樣品所進行的實驗過程,結果符合標準要求。對苯二甲酸PTA是重要的化工產品,主要用于生產聚酯和增塑劑。而粒度分布是其重要的產品指標。根據《工業用精對苯二甲酸粒度分布的測定激光衍射法》的中華人民共和國石油化工行業標準SH/T1612.8-2005。馬爾文帕納科MS300...
納米粒度電位儀是一種用于化學領域的分析儀器,主要用于測量納米級和亞微米級固體顆粒、乳液的粒度分布以及Zeta電位。通過動態光散射(DLS)等技術,該儀器能夠準確、快速地分析樣品的粒徑大小和分布,同時測定顆粒表面的Zeta電位,從而了解顆粒的穩定性和表面電荷情況。納米粒度電位儀利用動態光散射原理,通過測量散射光的強度和波動來推算顆粒的粒徑大小和分布。當激光束照射到顆粒樣品上時,顆粒會散射光,散射光的強度與顆粒的大小和數量有關。通過分析散射光的波動情況,可以得到顆粒的粒徑分布信息...
納米粒度電位儀是一種高度專業化的分析儀器,廣泛應用于化學、生物學、材料科學、化學工程、環境科學技術及資源科學技術等多個學科領域。主要用于測量納米級和亞微米級顆粒的粒徑分布以及顆粒表面的Zeta電位。通過測量粒徑分布,可以了解顆粒的大小、形狀和分散性,這對于評估顆粒的穩定性和性能至關重要。而Zeta電位的測量則有助于了解顆粒表面的電荷性質,從而推斷顆粒之間的相互作用和分散穩定性。以下是納米粒度電位儀操作指南的具體內容:1、準備工作檢查電源與連接:確保儀器的電源線連接正常,避免因...
激光粒度分布儀是一種集光、機、電、計算機為一體的高科技產品,工作原理基于光散射原理。當激光照射到顆粒上時,會產生衍射和散射現象。不同粒徑的顆粒會產生不同的散射光分布,通過檢測這些散射光的分布,可以反推出顆粒的粒徑分布。具體來說,激光粒度分布儀通過收集和分析散射光的信號,來確定顆粒的大小分布。激光粒度分布儀通常由激光器、樣品池、光學系統、探測器和數據處理系統等部分組成。激光器發出的激光經過光學系統聚焦后,照射到樣品池中的顆粒上。顆粒散射的光被光學系統收集,并聚焦到探測器上。探測...
馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer的粒徑測試報告中的的參數都有哪些,都代表了什么含義?今天我們一次性給大家解釋清楚。如下圖所示,Zetasizer的粒徑測試報告的形式分為三個部分:SampleDetail樣品細節SizeDistributionbyIntensity光強分布圖和Correlogram相關圖StatisticsTable測試結果統計表如上圖,在粒度測試報告SampleDetail區域中,加粗的參數含義如下:SampleName:樣品名稱ProjectN...