激光粒度儀是一種基于激光散射原理，用于測量顆粒大小和分布的精密儀器。其工作原理是利用激光的散射現象來測量顆粒的大小。當激光照射到顆粒上時，會發生散射現象，散射光的強度和角度與顆粒的大小、形狀、折射率等因素有關。儀器通過收集和分析散射光的信號，來確定顆粒的大小分布。具體來說，激光粒度儀通常由激光器、樣品池、光學系統、探測器和數據處理系統等組成。激光器發出的激光經過光學系統聚焦后，照射到樣品池中的顆粒上。顆粒散射的光被光學系統收集，并聚焦到探測器上。探測器將光信號轉換成電信號，數...

x射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。其基本原理是利用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出次級X射線，即X射線熒光。當這些高能射線與樣品中的原子相互作用時，會將原子內層的電子擊出，導致外層電子躍遷到內層。當外層電子返回基態時，會釋放出特征X射線，這些特征X射線的能量或波長與元素的種類有關。通過檢測這些特征X射線，可以確定樣品中存在的元素種類及其含量。x射線熒光光譜儀的結構介紹：1、主控制臺功能模塊：主控制臺是核心部分，包括檢測、控制、數據處理等功能模塊，負責...

粉末衍射儀，特別是粉末X射線衍射儀，是一種基于X射線衍射原理的重要分析儀器，在材料科學、化學、物理等多個領域發揮著舉足輕重的作用。其工作原理是利用具有一定發散度的特征X光束照射多晶平板樣品。多晶平板樣品中一部分被照射的小晶粒的同名衍射晶面及其等同晶面所產生的衍射線將在適當的方位聚焦而形成衍射強峰。這些被聚焦的衍射線所對應的同名晶面或等同晶面與光源和接收狹縫處在同一聚焦圓周上。在測角儀掃描過程中，聚焦圓的半徑會不斷改變，但在樣品一定深度范圍內總是存在與聚焦圓吻合的弧面。這些滿足...

X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法，在多個領域有著廣泛的應用。其基本原理是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出次級X射線，即X射線熒光。這些次級X射線具有特定的能量或波長特性，與元素的種類有關。因此，通過測量這些次級X射線的能量或波長，可以確定樣品中存在的元素種類及其含量。X射線熒光光譜儀的維護保養至關重要，以下是一些關鍵的維護保養措施：1、儀器清潔：定期使用無紡布或棉布擦拭儀器的外表面，以保持其干凈。在清潔過程中，禁止使用含有溶劑的清潔劑，以免損壞儀器...

在上一篇“MP工具箱”文章中，我們介紹了馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer的粒徑測試報告中的的參數都代表了哪些含義，那么如何判斷納米粒度儀測試結果的質量呢？本文將就此問題給出解答。在判別Zetasizer納米粒度電位儀的測試結果前，我們要確保所測試的樣品濃度合適。對于大多數剛性納米粒子來說，在合適的濃度范圍內，粒徑大小是不隨濃度變化的。通常適合測試的樣品為半透明或接近透明狀態。還可以通過對countrate（測試光強）和attenuator（衰減器編號）等參數來考察...