熒光x射線分析中的兩大誤區(qū)

誤區(qū)1：標(biāo)樣制備太麻煩，用無標(biāo)樣法

       熒光x射線分析事實上是一種對比分析，特別是經(jīng)驗系數(shù)法，測得的X射線強度與相應(yīng)元素濃度的對應(yīng)關(guān)系*是建立在標(biāo)準(zhǔn)樣品的基礎(chǔ)之上的，必須制備足夠數(shù)量的標(biāo)準(zhǔn)樣品，標(biāo)樣的質(zhì)量直接決定了分析結(jié)果的可靠性。基本參數(shù)法等無標(biāo)樣分析法一般是用于*未知樣品的初步分析的，所謂無標(biāo)樣也只是不需要系列標(biāo)準(zhǔn)樣而已。

誤區(qū)2：標(biāo)準(zhǔn)樣品可以購買別人的

      由于每個用戶的原料情況、配比是各不相同的，而對于X熒光分析而言，標(biāo)樣與被測未知樣越相似，測定結(jié)果越好，因此，為了取得好的分析結(jié)果，各用戶應(yīng)自己配制標(biāo)樣。標(biāo)樣的配置應(yīng)注意幾個問題：

a、必須主要用生產(chǎn)用原料配制，個別少量組份可用化學(xué)試劑;

b、標(biāo)樣數(shù)目應(yīng)大于被分析元素個數(shù)(至少多兩個);

c、標(biāo)樣中被測元素的含量范圍應(yīng)*覆蓋未知樣品相應(yīng)元素的濃度變化范圍;

d、標(biāo)樣中各被測元素的濃度之間不應(yīng)存在相關(guān)性。