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激光噴霧粒度儀是一種基于激光散射原理的高精度顆粒分析設備，專用于測量噴霧、氣霧劑、粉霧劑等微小顆粒的尺寸及其分布，測量范圍通常覆蓋0.1-30000μm，可滿足不同場景需求。其核心原理是：當激光束照射到噴霧顆粒時，顆粒對入射光產生散射作用，散射光強度及角度分布與顆粒粒徑直接相關——大顆粒散射光角度小、信號強，小顆粒散射光角度大、信號弱。通過測量散射光的角度分布與強度，結合米氏散射理論或夫瑯禾費衍射模型（適用于5μm顆粒），可反算出顆粒粒徑分布。激光噴霧粒度儀在使用前需要進行一...

X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質的晶體結構、織構及應力，進行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是：當一束X射線照射到晶體物質上時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強度與晶體結構密切相關，不同的晶體物質具有自己獨t的衍射圖樣。通過分析這些衍射圖樣，可以獲得物質的晶體結構信息。X射線衍射儀的常見問題及...

粒度儀數據反映顆粒的大小分布，而分形維數則是對這種分布背后“形態復雜性”的量化。通過計算分形維數，能從傳統粒度分析中挖掘出更深層的結構信息，為理解顆粒的形成機制、優化制備工藝、預測性能提供重要依據。本文中將介紹利用MS3000粒度儀測試數據計算分形維數的操作步驟。什么是分形維數？分形（fractal）理論是為描述具有自相似性自然碎片或不規則結構而提出的。例如土壤粒徑、顆粒表面積、顆粒體積和孔隙大小等具有自相似特征，應用分形理論來定量描述土壤形態和性質已成為土壤科學研究的重要方...

近日，第十八屆藥機展（PMEC2025）在上海新國際博覽中心落下帷幕，馬爾文帕納科攜麥克默瑞提克在此次展會所展示的顆粒、粉體等先進表征技術備受業內人士關注。稍顯遺憾的是很多行業客戶沒有辦法到現場參觀交流，且由于展位面積有限，更多產品和方案沒有辦法現場展示。為了讓大家更多地了解馬爾文帕納科和麥克應用于醫藥行業的產品和解決方案，本文將整理摘錄完整的醫藥行業方案，并在文中附上馬爾文帕納科和麥克默瑞提克制藥行業產品手冊，您可點擊下載了解詳情。儀器設備和檢測技術貫穿醫藥產業鏈的研發、生...

針對半導體行業，馬爾文帕納科最新推出的高速晶向定位系列解決方案，可實現從全自動的在線分析到晶圓材料的快速質量檢查，覆蓋從晶棒-鑄錠-切片和晶圓制程的全部應用。利用XRD分析技術在晶圓生產的全部流程中，提供簡單、快速、高精度的晶體定向測量，大大提高產品良率。小巧多工的DDCOM和SDCOM系列能夠在不影響精度的情況下高速完成測量，Omega/ThetaXRD系列在晶格測定方面可提供超高的測量精度和速度，WaferXRD系列利用晶圓端控制的高級分揀選項提供高通量篩選，XRD-OE...