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X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質的晶體結構、織構及應力,進行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是:當一束X射線照射到晶體物質上時,由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成,這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級,故由不同原子散射的X射線相互...
一、X射線熒光光譜儀原理X射線熒光光譜儀是通過一種波長較短的電磁輻射(X射線)。當用X射線光管發出高能電子照射樣品時,入射電子被樣品中的電子減速,會產生寬帶連續X射線譜。如果入射光束為X射線,樣品中的元素內層電子受其激發,可產生特征X射線,一般稱為X熒光射線(XRF).通過SDD探測器收集到分析樣品中不同元素產生的熒光X射線波長和強度,可獲得樣品中的元素組成與含量信息,達到定性和定量分析的目的。二、X射線熒光光譜儀用途1、鋼鐵行業:對生鐵、各類鑄鐵、各類合金鋼及爐渣、礦石、燒...
X射線分析儀器是一種可以快速檢測消費品、涂層、土壤、金屬和其它物質中的化學元素的儀器。通過分析發射的X射線光譜,X射線分析儀器可以同時檢測出30多種化學元素的濃度含量,以及非金屬元素氯、溴和磷。X射線分析儀器的主要五大功能如下:1、在測定微量成分時,為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響,X射線分析儀器配置了4種可自動切換的濾光片,有效地降低了背景和散射X射線的干擾,調整出感度的輻射,進一步提高了S/N的比值,從而可以進行更高靈敏度的微量分析。2、X射...