X射線熒光光譜儀原理、用途及主要優勢

 

    X射線熒光光譜儀是通過一種波長較短的電磁輻射（X射線）。當用X射線光管發出高能電子照射樣品時，入射電子被樣品中的電子減速，會產生寬帶連續X射線譜。如果入射光束為X射線，樣品中的元素內層電子受其激發，可產生特征X射線，一般稱為X熒光射線（XRF）.通過SDD探測器收集到分析樣品中不同元素產生的熒光X射線波長和強度，可獲得樣品中的元素組成與含量信息，達到定性和定量分析的目的。

 

二、X射線熒光光譜儀用途

 

1、鋼鐵行業：對生鐵、各類鑄鐵、各類合金鋼及爐渣、礦石、燒結礦、球團礦、鐵精粉、

 

鐵礦石除碳（C）以外的各種元素成份分析。

 

2、耐火材料及水泥行業的分析：各類耐火材料及水泥生料樣品的成份分析。

 

3、有色行業：對鋁合金、不銹鋼、銅合金樣品及鉛鋅礦、銅礦、銀礦、鉬礦等各種成份

 

分析。

 

4、質檢部門：ROSH指令中的Pb，Cd，Cr，Hg，Br及氯素各種等成份分析。

 

5、鍍層測厚：可對金屬材料及非金屬材料上的所有電鍍層的厚度進行準確無損測量。

 

三、x射線熒光光譜儀主要優勢

 

1、：測試結果可以接近濕化學方法測試；

 

2、快速：分析樣品中的幾十個元素只需幾分鐘；

 

3、無損：不會破壞被分析樣品的物理和化學特性；

 

4、直觀：分析結果以圖表方式直接呈現；

 

5、環保：不會對環境產生污染破壞。