X射線衍射儀是對物質(zhì)和材料的組成和原子級結(jié)構(gòu)進行研究和鑒定的基本手段。X射線衍射儀對單晶、多晶和非晶樣品進行結(jié)構(gòu)參數(shù)分析，如物相鑒定和定量分析、室溫至高溫段的物相分析、晶胞參數(shù)測定（晶體結(jié)構(gòu)分析）、多晶X-射線衍射的指標化以及晶粒尺寸和結(jié)晶度的測定等。可地測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，如：物相定性與定量分析，衍射譜的指標化及點陣參數(shù)。

 

應(yīng)用范圍：

 

工業(yè)用X射線衍射儀在當今科技領(lǐng)域里用來分析各種物質(zhì)成分結(jié)構(gòu)的測試儀器已得到了廣泛的應(yīng)用。對材料學、物理學、化學、地質(zhì)、環(huán)境、納米材料、生物等領(lǐng)域來說，X射線衍射儀都是物質(zhì)表征和質(zhì)量控制*的方法。XRD能分析晶體材料諸如產(chǎn)業(yè)廢棄物、礦物、催化劑、功能材料等的相組成分析，大部分晶體物質(zhì)的定量、半定量分析；晶體物質(zhì)晶粒大小的計算；晶體物質(zhì)結(jié)晶度的計算等。

 

使用范圍：

 

金屬材料：半導體材料、合金、超導材料、粉末冶金材料；無機材料：陶瓷材料、磁性材料、催化劑、礦物、水泥、玻璃；復合材料：碳纖維、纖維大分子、工業(yè)廢棄物；有機材料：醫(yī)藥品、工程塑料、各種樹脂等。